Xun Chen
Bayesowski model wzrostu niezawodności oparty na dynamicznych parametrach rozkładu
W artykule przestudiowano metody analizy statystycznej na różnych etapach wzrostu niezawodności w oparciu o model monotoniczny. Zamodelowano zmiany jakim dynamiczne parametry rozkładu podlegają podczas badań. Podano bayesowskie modele wzrostu niezawodności dla licznych etapów wzrostu niezawodności. Na koniec metodę zweryfikowano w oparciu o przykład praktyczny.
Bayesian reliability growth model based on dynamic distribution parameters
In this paper we study the statistical analysis methods at different stages of reliability growth based on the monotone model. The changes of dynamic distribution parameters during test are modeled. Bayesian reliability growth models for multiple stages of reliability growth are given. Finally the method is validated by a practical example.
Stwierdzanie niezawodności systemu na podstawie równoważnych danych z przyspieszonych badań elementów składowych w oparciu o transformację celu niezawodnościowego
Ogólnie, oprogramowanie do badań stwierdzających niezawodność (RDT) można stosować na różnych poziomach, w tym na poziomie elementu składowego, podsystemu i systemu, w fazie weryfikacji i walidacji cyklu życia produktu. Stwierdzenie niezawodności systemu w realnym terminie staje się ważkim problemem ze względu na wymogi rynku co do zmniejszenia czasu i kosztów rozwoju. W prezentowanej pracy zaproponowano metodę opartą na transformacji celu niezawodnościowego, wedle której niezawodność systemu stwierdza się na podstawie danych z RDT części składowych. Aby skrócić czas testowania, w pierwszej kolejności tworzy się plan RDT dla części składowej w warunkach przyspieszonych. Następnie cel niezawodnościowy systemu przy różnych czasach pracy wymaganych przez producenta, jak i konsumenta, zostaje przetransponowany na cel o tym samym określonym czasie użytkowania, który powinien spełniać ograniczenie czasowe dla badań na poziomie systemu. Następnie szacuje się dolne granice przedziałów ufności dla niezawodności komponentów w określonym czasie eksploatacji systemu oraz przekształca się je na równoważne dane dwumienne dla części składowych z wykorzystaniem metody dopasowywania krzywych; dalej, są one syntetyzowane do równoważnych dwumiennych danych dotyczących systemu z zastosowaniem metody Bayesa. Pozwala to na stwierdzenie niezawodności systemu. Decyzje podejmuje się na podstawie równoważnych danych dwumiennych dotyczących systemu z wykorzystaniem klasycznego planu wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu według zadanych charakterystyk dla określonego czasu użytkowania. Jeżeli decyzja nie może zostać podjęta w ten sposób, konstruuje się bayesowski plan wyrywkowej kontroli odbiorczej systemu wg. zadanych charakterystyk, gdzie dane równoważne stanowią parametry a priori, oraz przeprowadza się uzupełniające badania systemu.
System reliability demonstration with equivalent data from component accelerated testing based on reliability target transformation
The reliability demonstration test (RDT) programs in general proceed at various levels, including component, subsystem, and system in the verification and validation phase of the product life cycle. The system reliability demonstration within feasible duration becomes a considerable issue because of the marketplace demands for decreased development time and cost. A method based on reliability target transformation is proposed to accomplish the system reliability demonstration with the data from the RDT of the components. In order to shorten the test time, the RDT plan for component under the accelerated condition is first designed. Then, the reliability target of the system with different lifetimes required by the producer and the consumer is transferred to the target with the same specified mission time, which should meet the time constraint of the system level test. Next, the lower limit confidence of component reliability at the system mission time are estimated and converted to the equivalent binomial component data by the curve fitting method, then they are synthesized to the equivalent binomial system data by the Bayesian method. Finally, the system reliability demonstration is considered. The system classical attribute acceptance sampling plan at the mission time is used to make decisions using the equivalent binomial system data. If the decision cannot be made, the system Bayesian attribute acceptance sampling plan will be designed with the equivalent data as the prior parameters and the complementary system test will be conducted.
Metoda prognozowania cyklu życia powielacza elektronów oparta na przyspieszonych badaniach degradacji
Powielacz elektronów (EM) to elektroniczne urządzenie próżniowe o wysokiej niezawodności i długim cyklu życia, które znajduje szerokie zastosowanie w spektrometrii i badaniach przestrzeni kosmicznej, a także w atomowych wzorcach częstotliwości. Jest to urządzenie krytyczne, które może stanowić ograniczenie dla technologii, w której jest wykorzystywane. Wyzwaniem dla naukowców i inżynierów pozostaje pytanie, jak przewidzieć żywotność EM. W pierwszej kolejności w artykule zbadano mechanizm degradacji EM. Badanie pokazało, że współczynniki emisji wtórnej elektrody powielacza maleją stopniowo wraz z upływem czasu pracy, co prowadzi do degradacji kluczowego wskaźnika wydajności EM, to znaczy wzmocnienia prądu elektrycznego. W oparciu o ten fakt, zaproponowano metodę prognozowania żywotności EM zasadzającą się na metodologii przyspieszonych badań degradacji (ADT) z wykorzystaniem podwójnych naprężeń. Następnie zaprojektowano i zrealizowano plan ADT z podwójnymi naprężeniami za pomocą odpowiedniego systemu testowego. Na koniec przedstawiono procedurę analizy danych, a ich wiarygodność zbadano poprzez weryfikację modelu. Przedstawiona metoda może znacznie zredukować czas i koszty badań dzięki wykorzystaniu przyspieszonych naprężeń, które mogą przyspieszyć proces degradacji EM. Metoda ta może również umożliwić nowy sposób przewidywania niezawodności i cyklu życia produktów o długim cyklu życia i wysokiej niezawodności.
Lifetime prediction method for electron multiplier based on accelerated degradation test
Electron multiplier (EM) is a kind of highly reliable and long-lifetime vacuum electronic device applied widely in spectrometry, space exploration and atom frequency standard. It is a critical device which might constrain the related technology. A challenge remains for researcher and engineer how to predict the life span of EM. Firstly, degradation mechanism of EM is investigated. It shows that the secondary emission ratios of each multiplier electrode reduces gradually with operating time, which results in the degradation of the key performance index of EM, i.e. the gain of electric current. So an accelerated degradation test (ADT) methodology using dual stresses is proposed to predict the life span of EM. Secondly, the ADT plan with dual stresses is designed and carried out by the corresponding test system established. Finally, the data analysis procedure is presented, and its validity is investigated by model verification. The presented method can sharply reduce testing time and cost because of using accelerated stress which can accelerate degradation process of EM. This method can also provide a new way to lifetime and reliability prediction for other products with long lifetime and high reliability.
Prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych w oparciu o model fizyki uszkodzeń oraz przyspieszone badania degradacji
W związku z niskim współczynnikiem tarcia oraz brakiem konieczności smarowania podczas pracy,samosmarujące łożyska ślizgowe (self-lubricating spherical bearings, SSPB) znajdują szerokie zastosowanie w układach pracy oraz układach przełożeń urządzeń w przemyśle lotniczym, elektrowniach jądrowych, oraz na statkach, stanowiąc kluczowe elementy tych układów. Uszkodzenie łożyska SSPB ma bezpośredni wpływ na niezawodność eksploatacyjną oraz bezpieczeństwo sprzętu; dlatego też istnieje konieczność precyzyjnego prognozowania resursu łożysk SSPB, pozwalającego na odpowiednie planowanie konserwacji oraz cykli wymiany , które ma na celu zapewnienie niezawodności i bezpieczeństwa kluczowego sprzętu. Dotychczas czas pracy łożysk SSPB prognozowano przede wszystkim w oparciu o wzory empiryczne podawane przez największych producentów łożysk. Wzory te, jednak, nie mają solidnej podstawy teoretycznej; trudno jest dla nich określić współczynniki korygujące, co zmniejsza trafność prognozowania czasu pracy. W przyspieszonych badaniach degradacji zwiększa się obciążenie celem przyspieszenia procesu zużycia łożysk SSPB. Badania przyspieszone umożliwiają trafne przewidywanie czasu pracy łożysk SSPB w krótkim okresie czasu. W przedstawionej pracy analizowano wzorce zużycia badanych łożysk oraz przedstawiono metody analizy zużycia. Następnie opracowano model fizyki uszkodzeń, który uwzględnia charakterystyki zużycia, parametry konstrukcyjne oraz parametry eksploatacyjne omawianych łożysk ślizgowych. Ponadto rozpatrywano możliwość zastosowania badań przyspieszonych dla tego typu łożysk. W wyniku przeprowadzonych badań, opracowano metodę prognozowania czasu pracy łożysk SSPB opartą na modelu fizyki uszkodzeń oraz badaniach przyspieszonych, która pozwala na szybkie i trafne prognozowanie czasu pracy samosmarujących łożysk ślizgowych.
Lifetime prediction of self-lubricating spherical plain bearings based on physics-of-failure model and accelerated degradation test
Due to small friction coefficient and no need for lubrication during operation, self-lubricating spherical plain bearings (SSPBs) have been widely used in operation and transmission systems in aerospace, nuclear power plants, and ship equipment and they are key components of these systems. SSPBs failure will directly affect the operational reliability and safety of the equipment; therefore, it is necessary to accurately predict the service life of SSPBs to define reasonable maintenance plans and replacement cycles and to ensure reliability and safety of vital equipment. So far, lifetime prediction of SSPB has been primarily based on empirical formulae established by most important bearing manufacturers. However, these formulae are lack of strong theoretical basis; the correction coefficients are difficult to determine, resulting in low accuracy of lifetime prediction. In an accelerated degradation test (ADT), the load is increased to accelerate the SSPB wear process. ADT provides a feasible way for accurate lifetime prediction of SSPB in a short period. In this paper, wear patterns are studied and methods of wear analysis are presented. Then, physics-offailure model which considers SSPB wear characteristics, structure parameters and operation parameters is established. Moreover, ADT method for SSPB is studied. Finally, lifetime prediction method of SSPBs based on physics-of-failure model and ADT is established to provide a theoretical method for quick and accurate lifetime prediction of SSPBs.
Analiza niezmienności mechanizmu degradacji w przyspieszonych badaniach degradacji z obciążeniem stopniowym
Streszczenie Wielu badaczy wykorzystuje przyspieszone badania degradacji z obciążeniem stopniowym (ang. step-stress accelerated degradation testing, SSADT) do oceny niezawodności wysoce niezawodnych produktów. Większość wcześniejszych prac nad SSADT zakłada, że podczas badań przyspieszonych mechanizm degradacji pozostaje niezmienny. Jednak, najnowsze badania wykazały, że mechanizmy degradacji mogą różnić się w zależności od poziomu przyspieszonego obciążenia. Poprawna ekstrapolacja wyników badań przyspieszonych na warunki otoczenia wymaga aby mechanizm degradacji przy wszystkich poziomach obciążenia był taki sam. Biorąc pod uwagę zmienność mechanizmu degradacji, wskazane jest badanie stopnia (nie)zmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT. W artykule zaproponowano metodę analizy niezmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT opartą na teście ilorazu wiarygodności. W pierwszej kolejności, przedstawiono podstawową zasadę testu ilorazu wiarygodności. Następnie, opisano model dla danych SSADT i metodę estymacji parametrów. Ponadto zaproponowano regułę decyzyjną stanowiąca narzędzie do analizy niezmienności. Omawianą metodę zilustrowano i zweryfikowano na przykładzie analizy niezmienności mechanizmu degradacji w badaniach SSADT gumy silikonowej.
Consistency analysis of degradation mechanism in step-stress acc elerated degradation testing
Step-stress accelerated degradation testing (SSADT) has been used by many researchers for the reliability assessment of highly reliable products. Most of the previous works on SSADT assume that the degradation mechanism keeps unchanged during the accelerated degradation testing. However, some recent investigations have shown that degradation mechanisms may be different among various accelerated stress levels. For an accurate extrapolation of accelerated testing results to the ambient condition, the degradation mechanism at all accelerated stress levels should be the same. Taking the variation of the degradation mechanism into account, it is advisable to test the degradation mechanism consistency in a SSADT. This paper proposes a likelihood ratio test method for the consistency analysis of degradation mechanism in the SSADT. We first introduce the basic principle of the likelihood ratio test method. Then we describe the model for SSADT data and the parameter estimation method. Further, we propose a decision rule for the consistency analysis. The proposed method is illustrated and validated with examples on the consistency analysis of degradation mechanism in a SSADT of silicone rubbers.